詳細摘要: 納米尺度3D光學(xué)干涉測量系統(tǒng)VS1800應(yīng)用光干涉現(xiàn)象,對微細的表面形貌進行測量,可實現(xiàn)高性能薄膜、半導(dǎo)體、汽車零配件、顯示器等行業(yè)所要求的高精度測量。而且還能...
產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時間:2023-09-28 在線留言縫前設(shè)備 縫制設(shè)備 縫制配件 整理設(shè)備 繡花機 內(nèi)衣機械 服裝輔助設(shè)備 洗滌機械 二手服裝機械 其它服裝機械
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詳細摘要: 納米尺度3D光學(xué)干涉測量系統(tǒng)VS1800應(yīng)用光干涉現(xiàn)象,對微細的表面形貌進行測量,可實現(xiàn)高性能薄膜、半導(dǎo)體、汽車零配件、顯示器等行業(yè)所要求的高精度測量。而且還能...
產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時間:2023-09-28 在線留言詳細摘要: IM4000PLUS是支持?jǐn)嗝嫜心ズ推矫嫜心ィ‵lat Milling®*1)的混合式離子研磨儀器。借此,可以用于適用于各種諸如對樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀察和各類...
產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時間:2023-09-28 在線留言詳細摘要: ArBlade 5000是日立離子研磨儀的高性能機型。它實現(xiàn)了超高速截面研磨。高效率截面加工功能,使電鏡截面觀察時樣品加工更簡單。
產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時間:2023-09-28 在線留言詳細摘要: 操作簡單且直觀。*:和TM4000Plus搭配應(yīng)用實例*:探測器內(nèi)置型(制造商: 德國Bruker nano GmbH)
產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時間:2023-09-28 在線留言詳細摘要: 圖標(biāo)按操作流程順序排列,操作簡便。通過對應(yīng)譜圖可簡單確認(rèn)元素重疊狀況。通過TruMap功能分離出譜峰重疊元素并準(zhǔn)確顯示(AZtecOne)。
產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時間:2023-09-28 在線留言詳細摘要: 臺式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級。我們以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察"為理念,開發(fā)出TM4000系列。在此基礎(chǔ)上,我們又推出功能更為多樣的TM4000...
產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時間:2023-09-28 在線留言詳細摘要: “*的SEM更為緊湊"寬幅僅為45 cm的緊湊型的設(shè)計,仍具備4.0 nm的圖像分辨率。全新開發(fā)的用戶界面和電子光學(xué)系統(tǒng)讓您深切體驗其高性能。
產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時間:2023-09-28 在線留言詳細摘要: 集優(yōu)異性能、操作簡便性、多樣化功能于一身。日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性,結(jié)合眾多的自動化功能,可高效發(fā)揮其高性能。SU39...
產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時間:2023-09-28 在線留言詳細摘要: MirrorCLEM是一個可簡便觀察光學(xué)顯微鏡和掃描顯微鏡同一位置的CLEM*1用系統(tǒng)。*1:CLEM (Correlative light and elect...
產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時間:2023-09-28 在線留言詳細摘要: 創(chuàng)新的“EM Wizard"界面更加直觀,僅需要“點擊"即可得到的圖像。超前的電腦輔助技術(shù)將電鏡的操作與控制提升到一個新水平。
產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時間:2023-09-28 在線留言詳細摘要: SU7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫質(zhì)圖像,而且還可以同時接收多種信號。此外,它還具備大視野觀察、In-Situ觀察等FE-SEM的眾多性能。SU7000...
產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時間:2023-09-28 在線留言詳細摘要: 專門為電子束敏感樣品和需300萬倍穩(wěn)定觀察的*半導(dǎo)體器件,高分辨成像所設(shè)計。
產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時間:2023-09-28 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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