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行業(yè)產(chǎn)品

  • 行業(yè)產(chǎn)品

柯岷國際貿(mào)易(上海)有限公司


  • 離子研磨儀 IM4000II

    詳細(xì)摘要: 離子研磨儀 IM4000II

    產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時(shí)間:2023-09-28 在線留言

  • 牛津儀器X-MaxTEM大面積硅漂移探測器

    詳細(xì)摘要: 牛津儀器X-MaxTEM大面積硅漂移探測器

    產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時(shí)間:2023-09-28 在線留言

  • 超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡 SU8600系列

    詳細(xì)摘要: 超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡 SU8600系列

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  • 超高分辨肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8700

    詳細(xì)摘要: 超高分辨肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8700

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  • 離子研磨儀 ArBlade 50002

    詳細(xì)摘要: 離子研磨儀 ArBlade 50002

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  • 牛津儀器Ultim Extreme無窗超級能譜

    詳細(xì)摘要: 牛津儀器Ultim Extreme無窗超級能譜

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  • 牛津儀器Xplore能譜探測器

    詳細(xì)摘要: 牛津儀器Xplore能譜探測器

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  • 球差校正掃描透射電子顯微鏡 HD-2700

    詳細(xì)摘要: 專用掃描透射顯微鏡HD-2700,配備了與德國CEOS GmbH公司(總經(jīng)理Max Haider先生)共同開發(fā)的球差校正儀,顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能,...

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  • 透射電子顯微鏡HT7800系列

    詳細(xì)摘要: 以創(chuàng)新的操作性,滿足廣泛領(lǐng)域的需求。新一代TEM"RuliTEM"誕生。"RuliTEM"120 kV透射電子顯微鏡系列,包含配備高襯度透鏡,實(shí)現(xiàn)大視野、高對比...

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  • 球差場發(fā)射透射電子顯微鏡 HF5000

    詳細(xì)摘要: 200 kV相差校正TEM/STEM,平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能。通過單極片實(shí)現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。透射電...

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  • CAD導(dǎo)航系統(tǒng) 故障分析導(dǎo)航系統(tǒng) (NASFA)

    詳細(xì)摘要: 該導(dǎo)航系統(tǒng)可以將CAD數(shù)據(jù)的布線和大規(guī)模集成電路的設(shè)計(jì)圖形和FIB的觀察圖像相對應(yīng)起來。當(dāng)CAD系統(tǒng)中的坐標(biāo)位置,樣品臺就會通過鏈接移動到相應(yīng)位置,就可以獲得相...

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  • 微型采樣系統(tǒng)

    詳細(xì)摘要: 微型采樣方法(已在日本和美國取得zhuanli)已在半導(dǎo)體器件分析領(lǐng)域成為一款工具,它正迅速向更小制樣方向發(fā)展。僅用一小時(shí)左右即可獲得一個(gè)微小樣品,以便于STE...

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  • 高性能聚焦離子束系統(tǒng) MI4050

    詳細(xì)摘要: MI4050是具有以下特征的高性能聚焦離子束系統(tǒng):新型電子光學(xué)系統(tǒng),可達(dá)到高水準(zhǔn)的SIM像分辨率?大束流使加工速度得以提升?提高了低加速電壓的分辨率,使得高品質(zhì)...

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  • FIB-SEM三束系統(tǒng) NX2000

    詳細(xì)摘要: 在設(shè)備及高性能納米材料的評價(jià)和分析領(lǐng)域,F(xiàn)IB-SEM已成為的工具。近來,目標(biāo)觀察物更趨微細(xì)化;更薄,更低損傷樣品的制備需求更進(jìn)一步凸顯。日立高新公司,整合了高...

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  • 高精度實(shí)時(shí)三維分析FIB-SEM三束系統(tǒng) NX9000

    詳細(xì)摘要: 通過自動重復(fù)使用FIB制備截面和進(jìn)行SEM觀察,采集一系列連續(xù)截面圖像,并重構(gòu)特定微區(qū)的三維結(jié)構(gòu)。采用的鏡筒布局,從*材料、*設(shè)備到生物組織——在寬廣的領(lǐng)域范圍...

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  • 高性能FIB-SEM系統(tǒng) Ethos NX5000

    詳細(xì)摘要: “Ethos"采用日立高新的核心技術(shù)--的高亮度冷場發(fā)射電子槍及新研發(fā)的電磁復(fù)合透鏡,不但可以在低加速電壓下實(shí)現(xiàn)高分辨觀察,還可以在FIB加工時(shí)實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)觀察。S...

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  • 全自動型原子力顯微鏡 AFM5500M

    詳細(xì)摘要: AFM5500M是操作性和測量精度大幅提高,配備4英寸自動馬達(dá)臺的全自動型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換,激光對中,測試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動操作平臺。新開發(fā)...

    產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時(shí)間:2023-09-28 在線留言

  • 環(huán)境型原子力顯微鏡 AFM5300E

    詳細(xì)摘要: AFM5300E是一款環(huán)境型原子力顯微鏡,它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測量。AFM5300E還具有高低溫控制功能,可以檢測溫度...

    產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時(shí)間:2023-09-28 在線留言

  • 通用型原子力顯微鏡 AFM5100N

    詳細(xì)摘要: AFM5100N除了激光檢測方式之外,全新的「自檢測懸臂」,在保證高分辨表面形貌觀察的同時(shí),大大簡化了AFM懸臂操作。

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  • 原子力顯微鏡工作站AFM5000II/RealTune® II

    詳細(xì)摘要: AFM5000Ⅱ工作站采用全新的圖標(biāo)用戶界面,標(biāo)準(zhǔn)配備參數(shù)自動設(shè)置功能(RealTune® II),即使是剛剛接觸SPM的初學(xué)者或者遇到全新的樣品時(shí),也...

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