大塚電子（蘇州）有限公司
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詳細(xì)摘要： 以非接觸方式測量晶圓等的研磨和拋光工藝，超高速、實(shí)時(shí)、高精度測量晶圓和樹脂 產(chǎn)品詳細(xì)信息 特點(diǎn) 非接觸式，非破壞性厚度測量 反射光學(xué)系統(tǒng)（可從一側(cè)接觸測量） 高...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：蘇州市更新時(shí)間：2024-01-09 在線留言
詳細(xì)摘要： 特點(diǎn)： 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可測量， 對(duì)應(yīng)CIE推薦...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：蘇州市更新時(shí)間：2024-01-09 在線留言
詳細(xì)摘要： ●非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測量1秒完成 ●OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、反射率的新型高精度、高性價(jià)比...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：蘇州市更新時(shí)間：2024-01-09 在線留言
詳細(xì)摘要： 本公司的MCPD series，由于采用柔軟纖維的事，從In-Situ到內(nèi)聯(lián)各種各樣的地方和用途的編入成為可能。測量原理為分光干涉方式，在實(shí)現(xiàn)高測量再現(xiàn)性的同時(shí)...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：蘇州市更新時(shí)間：2024-01-09 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 可測從0nm開始的低（殘留）相位差 光軸檢出同時(shí)可高速測量相位差(Re.) （相當(dāng)于快速的0.1秒以下來處理） 無驅(qū)動(dòng)部，重復(fù)再現(xiàn)性高 設(shè)置的...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-06-10 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 可測從0nm開始的低（殘留）相位差 光軸檢出同時(shí)可高速測量相位差(Re.) （相當(dāng)于快速的0.1秒以下來處理） 無驅(qū)動(dòng)部，重復(fù)再現(xiàn)性高 設(shè)置的...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-06-10 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對(duì)策和粒子對(duì)策，可對(duì)應(yīng)液晶line...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-06-09 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對(duì)應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置 可用于彩色濾光片的光學(xué)特性或玻...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-06-08 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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