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行業(yè)產(chǎn)品

  • 行業(yè)產(chǎn)品

大塚電子(蘇州)有限公司


  • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo3

    詳細(xì)摘要: 【ELSZneo使光散射的物性評價(jià)邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的機(jī)型,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位(Zeta Potenti...

    產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-02-01 在線留言

  • ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSZneoSE2

    詳細(xì)摘要: 本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據(jù)用途,可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。...

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  • 多樣品納米粒子徑測試系統(tǒng)·nanoSAQLA

    詳細(xì)摘要: ● nanoSAQLA是一臺通過動(dòng)態(tài)光散亂法(DLS法)測量粒徑(粒徑0.6nm~10um)的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測定的新光學(xué)系統(tǒng),實(shí)...

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  • 多樣品nano粒子徑測量系統(tǒng) nanoSAQLA(帶自動(dòng)取樣器 AS50)

    詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品信息 特點(diǎn) nanoSAQLA 的特點(diǎn) 1個(gè)單元可輕松連續(xù)測量5個(gè)樣品 實(shí)現(xiàn)了 在沒有自動(dòng)進(jìn)樣器的情況下難以 實(shí)現(xiàn)的 多個(gè)樣品的 連續(xù)測量, 也可以通過改變...

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  • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)·ELSZ-2000ZS

    詳細(xì)摘要: ●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑,并可進(jìn)行分子量測量的檢測裝置?!襁m用于粒徑測量范圍(0.6nm~10um),濃度范圍(0.00001%~40%)...

    產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-01-09 在線留言

  • 顯微分光膜厚儀 OPTM series2

    詳細(xì)摘要: ●非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ●OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀,測試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、反射率的新型高精度、高性價(jià)比...

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  • 膜厚量測儀 FE-300

    詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品信息 特 長 薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價(jià)光學(xué)薄膜量測儀 藉由反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000機(jī)種90%的強(qiáng)大功能 無...

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  • 嵌入式膜厚檢測儀2

    詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用分光干涉法 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)( 第4834847號) 使用光學(xué)光纖,可靈活構(gòu)筑測量系統(tǒng) 可嵌入至各種制造設(shè)備。 實(shí)時(shí)測量膜厚 ...

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  • 橢偏儀 FE-5000/5000S

    詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 可在紫外和可見(250至800nm)波長區(qū)域中測量橢圓參數(shù) 可分析納米級多層薄膜的厚度 可以通過超過400ch的多通道光譜快速測量Ellipso...

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  • 分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3

    詳細(xì)摘要: 即時(shí)檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強(qiáng)酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測 采用分光干涉法實(shí)現(xiàn)高度檢...

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  • 多通道光譜儀 MCPD-9800 / 6800

    詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品信息 特長 應(yīng)用廣泛的測量儀。 以機(jī)型MCPD-9800為首,一共有3種對應(yīng)12波長領(lǐng)域的測量儀。 我們可以根據(jù)客戶的需求和用途提出的方案。 不同評價(jià)方法對...

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  • 總光譜光通量測量系統(tǒng) HM/FM series

    詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 可處理高達(dá)2400mm的直管光學(xué)總光通量測量 測量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標(biāo)準(zhǔn) 采用新的探測器,可以進(jìn)行廣動(dòng)態(tài)范圍的測量 測量...

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  • 紫外分光輻射照度測量系統(tǒng) New

    詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品信息 特征 該檢測器 是一種高性能的分光光度計(jì) ,在光源測量、反射/透射測量、過程測量等 方面取得 了 多項(xiàng)成果 。 覆蓋從紫外線到可見光的寬波長范圍 帶軟...

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  • 紫外分光全光譜光通量測量系統(tǒng)

    詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品信息 特征 具有高靈敏度檢測器的寬測量范圍 具有紫外線自吸收校正的高精度測量 配備溫度控制單元,可從-110C進(jìn)行溫度控制 涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍 ...

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  • 紫外分光配光測量系統(tǒng)

    詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品信息 特征 通過分光光度分布對紫外光進(jìn)行高精度測量 從配光上評估紫外光的發(fā)光強(qiáng)度、光束開度、光束光通量 涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍 支持從 LED 芯片...

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  • 高感度分光輻射亮度計(jì) HS-1000

    詳細(xì)摘要: 特點(diǎn): 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法(衍射光柵), 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量, 對應(yīng)CIE推薦的...

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  • 高速LED光學(xué)特性儀 LE series2

    詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 與產(chǎn)線的控制信號同步 通過光纖的自由的測試系統(tǒng) 實(shí)現(xiàn)最短2ms~的光譜測量(LE-5400) 同以往的產(chǎn)品相比,測量?演算?評價(jià)1個(gè)周期有可到...

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  • 量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

    詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 測量精度高 可瞬間測量量子效率(量子收率) 可去除再激勵(lì)熒光發(fā)光 采用了積分半球unit,實(shí)現(xiàn)了明亮的光學(xué)系 采用了低迷光多通道分光檢出器,大...

    產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-01-09 在線留言

  • 高靈敏度近紅外量子效率測量系統(tǒng) QE-5000 New

    詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品信息 特殊長度 可以測量0.01%或更低的單線態(tài)氧的產(chǎn)生量子產(chǎn)率。 單線態(tài)氧 (1270 nm) 的簡單直接光譜觀察 可在用于生物應(yīng)用等的水性溶劑中測量。 ...

    產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-01-09 在線留言

  • 小角激光散射儀 PP-1000

    詳細(xì)摘要: PP-1000小角激光散射儀,利用小角激光散射法(Small Angle Laser Scattering,簡稱SALS),可以對高分子材料和薄膜進(jìn)行原位檢測,...

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