CMI760CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀,深圳CMI760 PCB銅厚測(cè)試儀廠家
【簡(jiǎn)單介紹】
【詳細(xì)說明】
CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀
CMI 760可用于測(cè)量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和精確的測(cè)量。
CMI 760臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性,對(duì)多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用需求。
同時(shí)CMI 760具有*的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析。
CMI760測(cè)厚儀配置包括:
- CMI760測(cè)厚儀主機(jī)
- SRP-4探頭
- SRP-4探頭替換用探針模塊(1個(gè))
- NIST認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片
CMI760測(cè)厚儀選配配件:
- ETP探頭
- TRP探頭
- SRG軟件
CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀
銅厚測(cè)試儀配置包括:
--CMI 760主機(jī)
--SRP-4探頭
--SRP-4探頭替換用探針模塊(1個(gè))
--NIST認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片
SRP-4面銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù):
--銅厚測(cè)量范圍:
--化學(xué)銅:10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)
--電鍍銅:0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
--線形銅可測(cè)試線寬范圍:8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
--準(zhǔn)確度:±1% (±0.1 μm)參考標(biāo)準(zhǔn)片
--精確度:化學(xué)銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %;電鍍銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.5 %
--分辨率:0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil, 0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm
ETP孔銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù):
--可測(cè)試最小孔直徑:35 mils (899 μm)
--測(cè)量厚度范圍:0.08 – 4.0 mils (1 – 102 μm)
--電渦流原理:遵守ASTM-E376-96標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定
--準(zhǔn)確度:±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
--精確度:1.2 mil(30μm)時(shí),達(dá)到1.0% (實(shí)驗(yàn)室情況下)
--分辨率:0.01 mils (0.1μm)
TRP-M(微孔)探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù):
--最小可測(cè)試孔直徑范圍:10 – 40 mils (254 – 1016 μm)
--孔內(nèi)銅厚測(cè)試范圍:0.5-2.5mils(12.7-63.5μm)
--可測(cè)試板厚:175mil (4445 μm)
--最小可測(cè)試板厚:板厚的最小值必須比所對(duì)應(yīng)測(cè)試線路板的最小孔孔徑值高3mils(76.2μm)
--準(zhǔn)確度(對(duì)比金相檢測(cè)法):±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm) ±10%≥1mil(25 μm)
--精確度:不建議對(duì)同一孔進(jìn)行多次測(cè)試
--分辨率:0.01 mil(0.1 μm)
●顯示 6位LCD數(shù)顯
●測(cè)量單位 um-mils可選
●統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、值max、最小值min
●接口 232串口,打印并口
●電源 AC220
●儀器尺寸 290x270x140mm
●儀器重量 2.79kg
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