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CMI250便攜式膜厚測試儀CMI250X射線熒光測厚儀

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深圳市方源儀器有限公司
2022-04-26 10:46:10
深圳市
283

【簡單介紹】

深圳市方源儀器提供的便攜式膜厚測試CMI250X射線熒光測厚儀有著測量結(jié)果、日期及時間、統(tǒng)計分析等儲存后可通過連接線發(fā)送到您的電腦技術

【詳細說明】

深圳市方源儀器提供的便攜式膜厚測試CMI250X射線熒光測厚儀有著測量結(jié)果、日期及時間、統(tǒng)計分析等儲存后可通過連接線發(fā)送到您的電腦技術。該儀器還支持雙功能技術磁感應和渦流感應，渦流技術測量如鋁、黃銅或銅等有色金屬上的非導電涂層：特富龍、搪瓷、環(huán)氧樹脂、陽極氧化膜、粉末涂料、油漆等。磁感應技術用于測量鋼鐵底材上的非磁性涂層：鋅、鎘、油漆、涂料等。
便攜式膜厚測試儀CMI250X射線熒光測厚儀

深圳市方源儀器提供的便攜式膜厚測試CMI250X射線熒光測厚儀有著測量結(jié)果、日期及時間、統(tǒng)計分析等儲存后可通過連接線發(fā)送到您的電腦技術。該儀器還支持雙功能技術磁感應和渦流感應，渦流技術測量如鋁、黃銅或銅等有色金屬上的非導電涂層：特富龍、搪瓷、環(huán)氧樹脂、陽極氧化膜、粉末涂料、油漆等。磁感應技術用于測量鋼鐵底材上的非磁性涂層：鋅、鎘、油漆、涂料等。

便攜式膜厚測試儀CMI250X射線熒光測厚儀參數(shù)：

	產(chǎn)品名稱：膜厚測試儀CMI250 產(chǎn)品型號：CMI250 產(chǎn)品產(chǎn)地：美國測試范圍：0.001-2.04mm（0.1-80mils）、0.001——1.52mm（0.1-60mils) 測試精度：參考不同的標準片±（2µm+3%讀數(shù)）測試時間：2S 保修時間：1年測試標準：（磁感應）符合AST M B499和B530、DIN 50981、ISO 2178及BS 5411標準第9和11部分的計量方法（渦流感應）符合AST M B244和B529、DIN 50984、ISO 2360及BS 5411標準第3部分的計量方法
產(chǎn)品優(yōu)勢：
--自動識別底材 --用戶不必自行校準，但需要時也可由用戶自行校準 --出廠前已校準完畢,只需進行快捷的基體校正歸零即可測量不同金屬基板上的涂層厚度 --具有統(tǒng)計分析報告功能：（數(shù)據(jù)記錄、平均值、標準差、上下限提醒功能） --測試數(shù)據(jù)通過USB2.0實現(xiàn)高速傳輸，并保存為Excel格式文件 --帶有背光的可視顯示屏 --可選的連續(xù)測量模式 --儲存容量：可進行9690次測量，日期和時間可自行設定 --電池壽命長（每天150次測量約可工作1個月） --在4℃-60℃范圍內(nèi)可進行溫度補償校準 --用戶界面為英文或簡體中文

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