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紙上涂硅分析儀

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測(cè)定元素Si(用戶提供標(biāo)準(zhǔn)樣品，日立工程師幫助用戶在機(jī)器上建立校準(zhǔn)曲線)測(cè)量單位g/m2預(yù)設(shè)校準(zhǔn)曲線范圍(根據(jù)標(biāo)樣)0.3~1.6g/m2樣品狀態(tài)紙張，薄膜分析時(shí)間用戶可自定義分析時(shí)間，典型分析時(shí)間是10-300秒

詳細(xì)介紹

測(cè)定元素	Si (用戶提供標(biāo)準(zhǔn)樣品，日立工程師幫助用戶在機(jī)器上建立校準(zhǔn)曲線)
測(cè)量單位	g/m2
預(yù)設(shè)校準(zhǔn)曲線范圍(根據(jù)標(biāo)樣)	0.3~1.6 g/m2
樣品狀態(tài)	紙張，薄膜
分析時(shí)間	用戶可自定義分析時(shí)間，典型分析時(shí)間是10-300秒。分析結(jié)果動(dòng)態(tài)顯示功能
X射線激發(fā)	激發(fā)電壓30kV，750uA，功率3瓦，Pd靶X射線管
X射線檢測(cè)	高分辨率硅漂移檢測(cè)器SDD，分辨率優(yōu)于160eV，可實(shí)現(xiàn)多元素檢測(cè)，無(wú)需濾光片即可分開(kāi)相近元素
主要硬件特點(diǎn)	－不需要氦氣－空氣壓力自動(dòng)校正機(jī)構(gòu) －樣品溫度自動(dòng)校正機(jī)構(gòu)
數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)	集成式多通道能量分析器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)
分析軟件	應(yīng)用于日常分析、再標(biāo)準(zhǔn)化校正、定性分析、定量分析、以及全部的X射線校正模式；日常維護(hù)和再標(biāo)準(zhǔn)化校正自動(dòng)提醒功能多項(xiàng)自動(dòng)校正功能：實(shí)驗(yàn)室空氣壓力校正
數(shù)據(jù)顯示和存儲(chǔ)	7英寸工業(yè)觸屏集成電腦，分辨率480 (H) x 800 (V) ；3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)USB接口，可實(shí)現(xiàn)U盤(pán)數(shù)據(jù)傳輸；主機(jī)內(nèi)存可儲(chǔ)存十萬(wàn)個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)及譜圖信息
電源要求	100 – 240 V, 47 / 63 Hz
外形尺寸和重量	長(zhǎng)寬高：440X520X155mm，重量16Kg
儀器使用條件	實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫度：10 － 35℃，濕度小于80%，無(wú)冷凝水環(huán)境