性做爰A片免费播放,丰满少妇乱A片无码,少妇疯狂做爰XXXⅩ高潮网站,国产乱国产乱老熟300视频

行業(yè)產品

  • 行業(yè)產品

深圳市汐品科技有限公司


當前位置:深圳市汐品科技有限公司>>電子顯微鏡>>FIB系統(tǒng)>>FIB-SEM三束系統(tǒng) NX2000

FIB-SEM三束系統(tǒng) NX2000

返回列表頁
參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產品型號

品       牌

廠商性質其他

所  在  地深圳市

紡織服裝機械網采購部電話:0571-88918531QQ:2568841715

聯(lián)系方式:查看聯(lián)系方式

更新時間:2025-01-10 13:24:37瀏覽次數(shù):41次

聯(lián)系我時,請告知來自 紡織服裝機械網

產品簡介

追求的TEM樣品制備工具在設備及高性能納米材料的評價和分析領域,F(xiàn)IB-SEM已成為的工具。近來,目標觀察物更趨微細化;更薄,更低損傷樣品的制備需求更進一步凸顯。日立高新公司,整合了高性能FIB技術和高分辨SEM技術,再加上加工方向控制技術以及Triple Beam®*1(選配)技術,推出了新一代產品NX2000運用高對比度,實時SEM觀察和加工終點檢測功能,可制備厚度小于20 nm的超薄樣品加工方向控制技術(Micro-sampling®...

詳細介紹

概述
產品參數(shù)

追求的TEM樣品制備工具


在設備及高性能納米材料的評價和分析領域,F(xiàn)IB-SEM已成為的工具。
近來,目標觀察物更趨微細化;更薄,更低損傷樣品的制備需求更進一步凸顯。
日立高新公司,整合了高性能FIB技術和高分辨SEM技術,再加上加工方向控制技術以及Triple Beam®*1(選配)技術,推出了新一代產品NX2000


  • 運用高對比度,實時SEM觀察和加工終點檢測功能,可制備厚度小于20 nm的超薄樣品

  • 加工方向控制技術(Micro-sampling®*3系統(tǒng)(選配)+高精度/高速樣品臺)對于抑制窗簾效應的產生,以及制作厚度均一的薄膜類樣品給予厚望。

  • Triple Beam®*1(選配)可提高加工效率,并能使消除FIB損傷自動化


產品參數(shù)
項目內容
FIB鏡筒
分辨率4 nm @ 30 kV、60 nm @ 2 kV
加速電壓0.5~30 kV
束流0.05 pA ~ 100 nA
FE-SEM鏡筒
分辨率2.8 nm @ 5 kV、3.5 nm @ 1 kV
加速電壓0.5~30 kV
電子槍冷場場發(fā)射型
探測器
標準検出器In-lens 二次電子探測器/樣品室二次電子探測器/背散射電子探測器
樣品臺X:0 ~ 205 mm
Y:0 ~ 205 mm
Z:0 ~ 10 mm
R:0 ~ 360°連續(xù)
T:-5 ~ 60°


其他推薦產品更多>>

感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN

紡織服裝機械網 設計制作,未經允許翻錄必究 .? ? ? Copyright(C)?2021 http://bigbangcentral.com,All rights reserved.

以上信息由企業(yè)自行提供,信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業(yè)負責,紡織服裝機械網對此不承擔任何保證責任。 溫馨提示:為規(guī)避購買風險,建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。

會員登錄

×

請輸入賬號

請輸入密碼

=

請輸驗證碼

收藏該商鋪

登錄 后再收藏

提示

您的留言已提交成功!我們將在第一時間回復您~