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S-3400N掃描電子顯微鏡

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產(chǎn)品簡介

相關(guān)參數(shù)：項目描述 SE分辨率 3.0nm (30kV)，高真空模式 / 10nm (3kV),高真空模式 BSE分辨率 4.0nm (30kV)，低真空模式放大…

詳細(xì)介紹

相關(guān)參數(shù)：

項目	描述
SE分辨率	3.0nm (30kV)，高真空模式 / 10nm (3kV), 高真空模式
BSE分辨率	4.0nm (30kV)，低真空模式
放大倍率	x5 ~ x300,000
加速電壓	0.3 ~ 30 kV
低真空范圍	6 ~ 270 Pa
樣品尺寸	直徑200mm
樣品臺	I型 II型
X	0 ~ 80mm 0 ~ 100mm
Y	0 ~ 40mm 0 ~ 50mm
Z	5 ~ 35mm 5 ~ 65mm
R	360o 360o
T	-20o~ +90o -20o ~ +90o
T	-20o~ +90o -20o ~ +90o
樣品高度	35mm (WD=10mm) 80mm (WD=10mm)
驅(qū)動類型	手動五軸馬達(dá)驅(qū)動
燈絲	預(yù)對中鎢燈絲
物鏡光欄	可移動式4孔物鏡光欄
槍偏壓	固定比例偏壓、手動偏壓和自動4偏
檢測器	二次電子檢測器高靈敏度半導(dǎo)體背散射電子檢測器
分析位置	WD=10mm, TOA=35o
控制	鼠標(biāo)、鍵盤，手動旋鈕
自動調(diào)校	自動燈絲飽和、自動4偏壓、自動槍對中、自動束流設(shè)定、自動合軸、自動聚焦消像散、自動亮度對比度

詳細(xì)說明

1. S-3400N具有強(qiáng)大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設(shè)定、
自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。
2. 在3kV低加速電壓時保證有10nm的分辨率。
3. 新型5分割高靈敏半導(dǎo)體式背散射探頭。
4. S-3400N II型具有五軸馬達(dá)臺，傾斜角度可達(dá)-20度~+90度，樣品可達(dá)80mm。
5. 分析樣品倉可以同時安裝EDX ， WDX 及EBSD。
6. 真空系統(tǒng)使用渦輪分子泵，潔凈、高效

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