MC-2000D涂層測厚儀 返回列表頁

  MC-2000D涂層測厚儀是一款便攜式磁性涂鍍層測厚儀，涂層測厚儀又稱鍍層測厚儀，漆膜測厚儀，油漆測厚儀，涂鍍層測厚儀，電鍍層測厚儀，薄膜測厚儀，覆層測厚儀，電鍍測厚儀等，該儀器采用磁感應(yīng)測厚原理，可以無損的測量出磁性基體上非導(dǎo)磁涂覆層材料的厚度。磁感應(yīng)方法可用來精確測量所有磁性基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)表面上非磁性涂鍍層，例如：油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，合成材料，包括各種有色金屬鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘電鍍層或磷化層，瓷，琺瑯，氧化層等。以及化工石油作業(yè)的各種防腐涂層。

  磁性涂層測厚儀原理：采用磁感應(yīng)原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應(yīng)電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用設(shè)計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達一個數(shù)量級）。現(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。 

   磁性涂鍍層測厚儀應(yīng)用范圍：可以方便無損地測量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該涂層測厚儀器廣泛應(yīng)用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

  MC-2000D型涂（鍍）層測厚儀儀器特點： MC-2000D涂層測厚儀（鍍層測厚儀）測量范圍：10～9000μm，它是的結(jié)晶,它采用單片機技術(shù)，精度高、可靠性高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測量、體積小、重量輕；且具有存儲、讀出、統(tǒng)計、低電壓指示、系統(tǒng)校準。

  MC-2000D涂層測厚儀圖片：

  MC-2000D型涂層測厚儀主要技術(shù)性能：

　　1、測量范圍：10~9000um

　　2、測量誤差：<>

　　3、最小示值：1um

　　4、顯示方式：4位液晶數(shù)字顯示

　　5、主要功能：

　　（1）測量：單探頭全量程測厚

　?。?）存儲、刪除：可存入測量數(shù)據(jù)600個，對測量中的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除，也可以刪除存儲區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。

　?。?）讀：讀出已存入的測量數(shù)據(jù)

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　?。?）統(tǒng)計：設(shè)有三個統(tǒng)計量，平均值值最小值

　?。?）校準：可進行系統(tǒng)校準

　　（6）電量：具有欠壓顯示功能

　?。?）打印：可打印測量值，選配微型打印機

　　（8）關(guān)機：具有自動關(guān)機和手動關(guān)機兩種方法

　　6、電源：兩節(jié)1.5v電池

　　7、功耗：功耗100mw

　　8、外形尺寸：126mm*51mm*27mm

　　9、重量：160g（含電池）

　　10、使用環(huán)境溫度：0℃~＋40℃相對濕度：不大于90%

　　11、基體最小厚度：0.5mm

　　12、基體最小平面的直徑：7mm

　　13、最小曲率半徑：凸：1.5mm 凹：6mm

　　14、欠電壓指示：右上角顯示＂＂

　　*臨界厚度小：工件鐵基厚度大于1mm時，其涂（鍍）層厚度的測量不受鐵基厚度影響。

  影響MC-2000D型涂層測厚儀測量結(jié)果的因素：

　a 基體金屬磁性質(zhì)

　　磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。

　　b 基體金屬電性質(zhì)

　　基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準。

　　c 基體金屬厚度

　　每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。

　　d 邊緣效應(yīng)

　　本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。

　　e 曲率

　　試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

　　f 試件的變形

　　測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

　　g 表面粗糙度

　　基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。

　　g 磁場

　　周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。

　　h 附著物質(zhì)

　　本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

　　i 測頭壓力

　　測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

　　j 測頭的取向

　　測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當使測頭與試樣表面保持垂直。

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