檢測面銅膜厚儀CMI563測厚儀
深圳市方源儀器有限公司檢測面銅膜厚儀CMI563測厚儀，CMI563可由用戶選擇所測試的銅箔類型，即化學(xué)銅或電鍍銅;甚至無需用戶校準(zhǔn)，即可測量線形銅箔度。NIS下(美國國家標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)學(xué)會(huì))認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片有不同厚度可供選擇。高品質(zhì)的CM 1563更可享受優(yōu)質(zhì)的保修期服務(wù)和牛津儀器客戶服務(wù)體系的全力支持。
用戶可替換探針(號)7,148,712)SRP-4探頭采用用戶可替換式探針模塊。耗損的探針能在現(xiàn)場迅速、簡便地更換，將停機(jī)時(shí)間縮至最短。更換探針模塊遠(yuǎn)比更換整個(gè)探頭經(jīng)濟(jì)。CMI563的標(biāo)準(zhǔn)配置中包含一個(gè)替換用探針模塊。另行訂購的探針模塊以三個(gè)為一組。
非電鍍銅：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm),
電鍍銅：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
線形銅可測線寬范圍：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
準(zhǔn)確度：±1% (±0.1 μm)參考標(biāo)準(zhǔn)片
精確度：非電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %；
電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5 %
分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm
創(chuàng)新性的CMI563銅箔測厚儀配置探針可由用戶自行更換的SRP-4探頭。相對于整個(gè)探頭的更換，更換探針更為方便和經(jīng)濟(jì)。CMI563可由用戶選擇所測試的銅箔類型，即化學(xué)銅或電鍍銅;甚至無需用戶校準(zhǔn)，即可測量線形銅箔度。NIS下(美國國家標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)學(xué)會(huì))
認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片有不同厚度可供選擇。高品質(zhì)的CMI563更可享受優(yōu)質(zhì)的保修期服務(wù)和牛津儀器客戶服務(wù)體系的全力支持。
膜厚測試儀膜厚儀測厚儀CMI233
檢測表面膜厚測量儀CMI233膜厚儀測厚儀
單用膜厚儀鍍層測厚儀CMI243
Oxford膜厚儀CMI243膜厚測量儀
牛津儀器原裝線路板孔銅面銅測厚儀膜厚儀
CMI760 PCB行業(yè)檢測線路板面銅孔銅膜厚儀測厚儀
檢測面銅膜厚儀CMI563測厚儀
在線數(shù)顯CMI563面銅測厚儀膜厚儀
上海供應(yīng)Oxford孔內(nèi)鍍銅測厚儀膜厚儀
深圳方源儀器*孔內(nèi)鍍銅膜厚儀
便攜式孔銅測厚儀膜厚儀CMI511廠家
批發(fā)供應(yīng)孔銅膜厚儀CMI511測厚儀
Oxford便攜式CMI165面銅測厚儀膜厚儀
牛津CMI165面銅膜厚儀銅厚測量儀
上海CMI95M銅箔測厚儀膜厚儀
深圳方源銅箔測厚儀膜厚儀
中國代理商：深圳市方源儀器有限公司
地址：深圳市南山區(qū)登良路62號南園綜合樓5樓 地址：上海市閔行區(qū)申濱路1051弄140號1101室
電話： 電話：
： : fyyq@ ： : fyyq@
