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Fischerscope X-RAY XAN220菲希爾X射線測(cè)厚儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

菲希爾X射線熒光測(cè)量?jī)x用于金銀合金快速無(wú)損分析及鍍層厚度測(cè)量，菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN220是一種優(yōu)化的X射線熒光測(cè)量?jī)x器，用于珠寶、硬幣和貴金屬的無(wú)損分析。菲希爾X射線測(cè)厚儀它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯（17）到鈾（92）范圍內(nèi)可同時(shí)測(cè)定多達(dá)24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品描述

Fischerscope X-RAY XAN220菲希爾X射線測(cè)厚儀

FISCHERSCOPE XAN220產(chǎn)品特點(diǎn)：
?菲希爾FISCHER XAN220型X射線金屬材料分析儀為無(wú)損分析珠寶、錢(qián)幣和貴金屬特別優(yōu)化設(shè)計(jì)；
?菲希爾X射線測(cè)厚儀配備固定的準(zhǔn)直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析
?配備高分辨率硅漂移探測(cè)器 (SDD)，適用于更復(fù)雜的多元素分析
?由下至上的測(cè)量方向，可以zui簡(jiǎn)便地實(shí)現(xiàn)樣品定位
菲希爾X射線測(cè)厚儀

FISCHERSCOPE XAN220菲希爾X射線測(cè)厚儀典型應(yīng)用領(lǐng)域包括：
?珠寶、貴金屬和牙科合金
?黃白色黃金
?鉑和銀
?銠
?合金和涂層分析
?多層涂層分析

FISCHERSCOPE XAN220技術(shù)參數(shù)
預(yù)期用途能量色散X射線測(cè)量?jī)x（ED XRF）用于分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。
元素范圍硫S（16）至鈾U（92）–同時(shí)多達(dá)24種元素
重復(fù)性對(duì)于金≤0.5‰，測(cè)量時(shí)間60秒
設(shè)計(jì) 臺(tái)式單元，帶有向上打開(kāi)的罩
測(cè)量方向自下而上
X射線管帶鈹窗的微焦點(diǎn)鎢管
高電壓 3 steps：30 kV，40 kV，50 kV;大陽(yáng)極電流：1 mA
光圈（準(zhǔn)直儀） ? 1 mm (39 mils), 可選? 2 mm (79 mils) or ? 0.6 mm (23.6 mils)
測(cè)量點(diǎn) ? 1.2 mm (47 mils) with aperture ? 1 mm (39 mils)平放樣品（測(cè)量距離0毫米）

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