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北京金三航科技發(fā)展有限公司
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)6400
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地北京市
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更新時(shí)間:2024-09-02 10:07:35瀏覽次數(shù):129次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 紡織服裝機(jī)械網(wǎng)英國(guó)ABI-6400電路板故障檢測(cè)儀產(chǎn)品突出特征:1)產(chǎn)品體積小
英國(guó)ABI-6400電路板故障檢測(cè)儀產(chǎn)品突出特征:
1)產(chǎn)品體積小,重量輕,USB接口,適合攜帶
6400電路板故障檢測(cè)儀產(chǎn)品介紹及特點(diǎn):
1)數(shù)字測(cè)試通道:64路(可擴(kuò)充到256通道).
6400電路板故障檢測(cè)儀技術(shù)參數(shù):
數(shù)字集成電路測(cè)試參數(shù)規(guī)格 | |
測(cè)試通道數(shù): | 64通道(可擴(kuò)展到256通道) |
總線隔離信號(hào)信道數(shù): | 4通道or 8通道 |
實(shí)時(shí)比對(duì)功能: | 需有二個(gè)64通道, 或128通道 |
輸出驅(qū)動(dòng)電壓: | TTL/CMOS 標(biāo)準(zhǔn) |
輸出驅(qū)動(dòng)電流: | 電流依不同的邏輯電平閾值有下列區(qū)分 |
一般H-L 80mA @ 0.6V | |
一般 L-H 200mA @ 2V | |
Max. 400mA | |
驅(qū)動(dòng)電壓轉(zhuǎn)換比: | >100V/µs |
電壓范圍: | +/-10V |
輸入阻抗: | 10k |
邏輯形態(tài): | 三態(tài)或開集極開路 (內(nèi)定或由程序設(shè)定) |
驅(qū)動(dòng)邏輯形態(tài): | Low, high, 三態(tài) (tri-state) |
過(guò)電壓保護(hù)范圍: | <0.5V, >5.5V |
最長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間: | 根據(jù)被測(cè)元器件而定 |
測(cè)試方式: | 在線及離線測(cè)試 (需外接離線測(cè)試盒) |
電源供給規(guī)格參數(shù) | |
自動(dòng)供給電源輸出: | 1 x 5V @ 5A 固定式 |
( 2 x 5V @ 5A 固定式 for 128信道) | |
過(guò)電壓保護(hù): | 7V |
過(guò)電流保護(hù): | 7A |
測(cè)試模式 | |
單次(Single): | 單次測(cè)試 |
循環(huán)(Loop): | 反復(fù)測(cè)試, 或條件式循環(huán)測(cè)試(PASS或FAIL) |
自動(dòng)掃描測(cè)試: | 可找到較為嚴(yán)格的邏輯電平閾值 |
邏輯電平閾值設(shè)定規(guī)格參數(shù) | |
最小調(diào)整解析: | 100mV |
低信號(hào)位準(zhǔn)Low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
CMOS 0.1V to 1.5V | |
轉(zhuǎn)態(tài)位準(zhǔn)Switching levels: | TTL 1.0V to 2.3V |
CMOS 1.0V to 3.0V | |
高信號(hào)位準(zhǔn)High levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
CMOS 1.9V to 4.9V | |
掃描低邏輯范圍Swept low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
CMOS 0.1V to 1.5V | |
掃描邏輯轉(zhuǎn)態(tài)范圍Swept switching levels: | TTL 1.2V |
CMOS 2.5V | |
掃描高邏輯范圍Swept high levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
CMOS 1.9V to 4.9V |
測(cè)試功能及參數(shù) | |
集成電路功能測(cè)試 | 根據(jù)測(cè)試庫(kù)的功能進(jìn)行測(cè)試,根據(jù)元件的原理和真值表進(jìn)行測(cè)試 |
元器件連接特性測(cè)試 | |
短路狀態(tài)偵測(cè) Short circuit detection | |
懸?。ǜ〗樱顟B(tài)偵測(cè) Floating input detection | |
開路狀態(tài)偵測(cè) Open circuit detection | |
連接狀態(tài)偵測(cè) Linked pin detection | |
電壓量測(cè)Voltage: | 最小解析 10mV 范圍 +/-10V |
具邏輯狀態(tài)偵測(cè) Logic state detection | |
VI曲線測(cè)試: | 測(cè)試通道數(shù)64 – 256(擴(kuò)展) |
| 電壓設(shè)定范圍 -10V to +10V (可自行設(shè)定),可以設(shè)置非對(duì)稱電壓掃描 |
| 測(cè)試電流 1mA |
曲線拐點(diǎn)系數(shù): | 管腳的v-i曲線圖中的拐點(diǎn)圖形,隨溫度產(chǎn)生變化的系數(shù),對(duì)于判定溫漂的故障元件非常有幫助 |
6400電路板故障檢測(cè)儀配件 | |
標(biāo)準(zhǔn)配件 | 離線測(cè)試測(cè)試盒 |
1 x 64 way test cable (64通道測(cè)試線) | |
1 x 64 way split test cable (2X32通道測(cè)試線) | |
1 x V-I probe assembly (V-I曲線測(cè)試探棒) | |
1 x BDO cable (隔離通道信號(hào)測(cè)試線) | |
1 x Short locator cable (短路電阻測(cè)試探棒) | |
1 x Ground clip (接地信號(hào)夾) | |
1 x PSU lead set (電源輸出線) |
通訊及機(jī)箱 | |
內(nèi)置通訊接口 | PCI interface (通訊接口) |
外置通訊接口及機(jī)箱 | MultiLink case (標(biāo)配) 為 USB.通訊端口 |
External case (選購(gòu)) 可升級(jí)到 5個(gè)安裝槽的SYSTEM 8 外接箱 (USB.通訊端口). |
組件數(shù)據(jù)庫(kù) | |
可測(cè)試元器件種類: | TTL 54/74 logic, CMOS, Memory, Interface, LSI, Microprocessor, PAL/EPLD, Linear, Package, Special a及使用者定義 |
可測(cè)試元器件封裝類型: | DIL, SOIC, PLCC, QFP,用戶可以自己配置測(cè)試夾和轉(zhuǎn)接座 |
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