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FISCHERSCOPE X-RAY XAN

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更新時間：2024-04-28 10:38:36瀏覽次數(shù)：92次

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南通菲希爾測試儀器有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：43條

所在地區(qū)：江蘇南通市

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產(chǎn)品簡介

特點根據(jù)DINISO3497和ASTMB568標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用X射線熒光光譜儀半導(dǎo)體檢測器（PIN和SDD）確保出色的檢測精度和高分辨率XAN250和252：用于測量鋁，硅或硫之類的輕元素

詳細(xì)介紹

特點

根據(jù)DIN ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用X射線熒光光譜儀
半導(dǎo)體檢測器（PIN和SDD）確保出色的檢測精度和高分辨率
XAN 250和252：用于測量鋁，硅或硫之類的輕元素；
準(zhǔn)直器：固定或4種可切換，最小測量點約為0.3mm
基本濾片：固定或6種可切換
固定樣品支架或手動XY載物臺
攝像頭可輕松定位測量位置
樣品高度最多17厘米;

應(yīng)用

牙科合金的無損分析，銀測試
多層鍍層測試
電子和半導(dǎo)體行業(yè)中厚度為10nm以上的功能涂層的分析
消費者保護(hù)中的痕量分析，例如測試玩具中的鉛含量
根據(jù)珠寶業(yè)和煉油廠精度要求測量金屬合金含量

適合各種應(yīng)用的合適設(shè)備

和XUL系列一樣，F(xiàn)ISCHERSCOPE®X射線XAN®儀器非常適合分析簡單形狀的樣品。然而，XAN系列的一大優(yōu)勢在于其高質(zhì)量的半導(dǎo)體探測器。X射線熒光不僅可以測量鍍層的厚度，還可以分析合金（例如銅）的成分。

XAN系列總共包括5款臺式XRF光譜儀，涵蓋廣泛的應(yīng)用范圍。XAN215具有經(jīng)濟高效的PIN檢測器。非常適合簡單的鍍層厚度任務(wù)，例如鐵上的鋅層或Au/Ni/Cu。對于更復(fù)雜的合金或貴金屬應(yīng)用，我們建議使用帶有硅漂移檢測器SDD的設(shè)備（例如XAN220）：由于其分辨率更高，可以可靠地區(qū)分金和鉑。當(dāng)您需要檢測痕量重金屬和其他有害物質(zhì)時，XAN250是您的理想選擇。

更強大的性能歸功于DPP+和更大面積的硅漂移探測器

在 XAN 220, XAN 222, XAN 250和XAN 252上，您現(xiàn)在可以更高精度和更快速度完成測量。與，這些儀器都配備了由Fischer自主研發(fā)的數(shù)字脈沖處理器DPP+。通過將新處理器與同樣新獲得的擁有更大有效面積(50 mm2)的硅漂移探測器相結(jié)合，可獲得并處理更多的信號，同時還能保證的能量分辨率。因此，您的收益是：最多可縮短2/3的測量時間，或者減少標(biāo)準(zhǔn)偏差達(dá)45%。