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FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600

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南通菲希爾測(cè)試儀器有限公司

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特征XRF測(cè)試儀器符合X射線標(biāo)準(zhǔn)DINISO3497和ASTMB568無(wú)損測(cè)量≤0.1µm(0.004mils)的超薄鍍層的鍍層厚度及材料分析4x可切換的準(zhǔn)直器(collimator):?0.1mm(3.9mils),?0.3mm(11.8mils),?1mm(39.4mils),?3mm(118mils)3x可切換的初級(jí)濾波器手動(dòng)可調(diào)節(jié)樣品臺(tái)（剪叉式升降臺(tái)）

詳細(xì)介紹

特征

XRF測(cè)試儀器符合 X射線標(biāo)準(zhǔn) DIN ISO 3497 和 ASTM B 568
無(wú)損測(cè)量≤ 0.1 µm (0.004 mils) 的超薄鍍層的鍍層厚度及材料分析
4x 可切換的準(zhǔn)直器 (collimator): ? 0.1 mm (3.9 mils), ? 0.3 mm (11.8 mils), ? 1 mm (39.4 mils), ? 3 mm (118 mils)
3x 可切換的初級(jí)濾波器
手動(dòng)可調(diào)節(jié)樣品臺(tái)（剪叉式升降臺(tái)），方便快速放置樣品
由于其緊湊的設(shè)計(jì)，XRF儀器重量輕，只需要很少的空間
作為定位輔助的激光指示器能幫助快速找準(zhǔn)樣品
高分辨率彩色攝像機(jī)簡(jiǎn)化了測(cè)量區(qū)域的精確定位
通過(guò)用戶友好的Fischer WinFTM®軟件操作、評(píng)估測(cè)量并清晰顯示測(cè)量值

Scissor Table FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600

應(yīng)用

電子和半導(dǎo)體行業(yè)中引線框架、連接器或印刷電路板上的功能鍍層
復(fù)雜多層鍍層結(jié)構(gòu)的測(cè)量
焊錫中鉛含量的測(cè)量
NiP鍍層中磷含量的測(cè)量

為快速、經(jīng)濟(jì)高效的XRF測(cè)量而優(yōu)化

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 是一款用戶友好的XRF臺(tái)式儀器，用于鍍層厚度測(cè)量和材料分析。它的特點(diǎn)是緊湊，實(shí)用的設(shè)計(jì)，但仍包含了符合預(yù)期的精密XRF測(cè)量部件。測(cè)量薄鍍層(≤ 0.1）μm，精確、快速、無(wú)損。此外，對(duì)具有復(fù)雜成分或低濃度的XRF分析也能輕松實(shí)現(xiàn)。由于DCM（距離控制測(cè)量）方法的，即使是復(fù)雜幾何形狀樣品的鍍層厚度測(cè)量和材料分析也非常簡(jiǎn)單。

正如您習(xí)慣的一樣，XDAL 600也是普遍適用的。它具有電動(dòng)可切換的4個(gè)準(zhǔn)直器以及3種初級(jí)濾波器，為每次測(cè)量創(chuàng)造理想的激發(fā)條件，從而滿足的靈活性和廣泛的測(cè)量需求。數(shù)字脈沖處理器DPP+能夠處理更高的計(jì)數(shù)率，以獲得的測(cè)量精度和更短的測(cè)量時(shí)間。

這種能量色散XRF測(cè)試儀的研制特別注重穩(wěn)定性和耐久性。因此，所有的要求都是為了在所有條件下，如在電鍍和生產(chǎn)中，都能獲得較長(zhǎng)的使用壽命。像所有Fischer的XRF測(cè)試儀一樣，您將受益于其的準(zhǔn)確性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性。因此，重新校準(zhǔn)的必要性大大降低，您節(jié)省了時(shí)間和精力。