儀器簡(jiǎn)介:
XAD是一款上照式全元素光譜分析儀,可測(cè)量nami級(jí)厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚,也可滿足微區(qū)RoHSjiance及多元素成分分析,的算法及解譜技術(shù)解決了諸多業(yè)界難題。
被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):
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微小樣品jiance:zui小測(cè)量面積0.008mm2
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變焦裝置算法:可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異形樣品,變焦距離可達(dá)0-90mm
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自主研發(fā)的EFP算法:AI(3)-U(92)元素的成分分析,Li(3)-U(92)元素的涂鍍層jiance,多層多元素,甚zhi有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測(cè)量
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的解譜技術(shù):減少能量相近元素的干擾,jiandi檢出限
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高性能探測(cè)器:SDD硅漂移窗口面積20/50mm2探測(cè)器
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X射線裝置:微焦加強(qiáng)型射線管搭配聚焦裝置
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上照式設(shè)計(jì):實(shí)現(xiàn)對(duì)超大樣品或者密集點(diǎn)位進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)gaoxiao率測(cè)量
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可編程自動(dòng)位移:選配自動(dòng)平臺(tái),X210*Y230*Z145mm行程內(nèi)無(wú)人值守自動(dòng)測(cè)量
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多準(zhǔn)直器自動(dòng)切換
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應(yīng)用領(lǐng)域:
廣泛應(yīng)用于電鍍行業(yè)、通訊行業(yè)、汽車(chē)行業(yè)、五金建材、航空航天、環(huán)保jiance、地質(zhì)地礦、水暖衛(wèi)浴、精密電子、珠寶首飾和古董、鋰電行業(yè)等多種領(lǐng)域。

多元迭代EFP核心算法(號(hào):2017SR567637)
zhuanye的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上,計(jì)算樣品中每個(gè)元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增qiangxiao應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開(kāi)發(fā)出EFP核心算法,結(jié)合的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),只需要少量的標(biāo)樣來(lái)校正儀器因子,可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及yuoji物層的厚度及成分含量。
單涂鍍層應(yīng)用:如Ni/Fe、Ag/Cu等
多涂鍍層應(yīng)用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等
合金鍍層應(yīng)用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等
合金成分應(yīng)用:如NiP/Fe,通過(guò)EFP算法,在計(jì)算鎳磷鍍層厚度的同時(shí),還可精準(zhǔn)分析出鎳磷含量比例。
重復(fù)鍍層應(yīng)用:不同層有相同元素,也可精準(zhǔn)測(cè)量和分析。
如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,diyi層Ni和第三層Ni的厚度均可測(cè)量。
有害元素jiance:RoHSjiance,可滿足鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、六價(jià)鉻(Cr VI)等有害元素的成分jiance及含量分析
技術(shù)參數(shù):
1. 成分分析范圍:鋁(Al)- 鈾(U)
2. 成分zui低檢出限:1ppm
3. 涂鍍層分析范圍:鋰(Li)- 鈾(U)
4. 涂鍍層zui低檢出限:0.005μm
5. zui小測(cè)量直徑□0.1*0.3mm(zui小測(cè)量面積0.03mm2)
標(biāo)配:zui小測(cè)量直徑0.3mm(zui小測(cè)量面積0.07mm2)
6. 對(duì)焦距離:0-30mm
7. 樣品腔尺寸:530mm*570mm*150mm
8. 儀器尺寸:550mm*760mm*635mm
9. 儀器重量:100KG
10. XY軸工作臺(tái)移動(dòng)范圍:100mm*150mm
11. XY軸工作臺(tái)zui大承重:15KG
選擇一六儀器的四大理由:
1.一機(jī)多用,無(wú)損jiance(涂鍍層jiance-環(huán)保RoHS-成分分析)
2.zui小測(cè)量面積0.002mm2
3.可jiance凹槽0-90mm的異形件
4.輕元素,重復(fù)鍍層,同種元素不同層亦可jiance