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上海愛斯特電子有限公司
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聯(lián)系我時，請告知來自 紡織服裝機械網(wǎng)多單色激發(fā)實現(xiàn)高峰背比，使能測元素（B～Zn），其準確度媲美大型波長色散光譜儀 通用型滿足各行各業(yè)任何種類物料元素濃度的測量要求 采用 多單色激發(fā)能量色散X射線熒光(MMEDXRF)分析技術(shù) 對數(shù)螺線型雙曲面彎晶(LSDCC)實現(xiàn)衍射并作為二次靶 高計數(shù)率、高分辨率 ...
DM2500
MMEDXRF輕中元素光譜儀
（通用型）
多單色激發(fā)實現(xiàn)高峰背比，使能測元素（B～Zn），
其準確度媲美大型波長色散光譜儀
通用型滿足各行各業(yè)任何種類
物料元素濃度的測量要求
采用
多單色激發(fā)能量色散X射線熒光(MMEDXRF)分析技術(shù)
對數(shù)螺線型雙曲面彎晶(LSDCC)實現(xiàn)衍射并作為二次靶
高計數(shù)率、高分辨率、高透過率(AP3.3窗)SDD探測器
電壓、電流、靶材組合的微焦斑薄鈹窗X射線管源
符合標(biāo)準
GB/T3286.11
GB/T4333.5
YS/T63.16
GB/T24198
GB/T24231
GB/T34534
GB/T176
JB/T11145
JC/T1085
等
概述
DM2500MMEDXRF輕中元素光譜儀，詳稱DM2500多單色激發(fā)能量色散X射線熒光輕中元素（B～Zn）光譜儀，是本公司集數(shù)十年X熒光光譜儀的研究經(jīng)驗，在公司原有的DM系列X熒光硫鈣鐵分析儀、X熒光多元素分析儀、X熒光光譜儀等的基礎(chǔ)上研制推出的一種具創(chuàng)新性的XRF光譜儀。它采用多單色激發(fā)能量色散X射線熒光(MMEDXRF) ( Multiple Monochromatic Excitation Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)分析技術(shù)。主要部件，如：單色晶體采用本公司研制的具有本公司的對數(shù)螺線旋轉(zhuǎn)點對點聚焦鍺單色晶體，X射線管采用KeyWay公司生產(chǎn)的50W微焦點大輻射角薄鈹窗X射線管，并對其高壓、電流、靶材進行組合， X射線探測器采用德國Ketek公司生產(chǎn)的具有高計數(shù)率、高能量分辨率、高透過率的常溫用SDD半導(dǎo)體X射線探測器。并且采用具有本公司自主知識產(chǎn)權(quán)的輕元素專用的光學(xué)系統(tǒng)及多種方法組合使用的多個單色激發(fā)系統(tǒng)等的技術(shù)，極大地提高了儀器的靈敏度和峰背比。它還采用X射線向下照射系統(tǒng)，樣品自旋裝置，特別適合粉末壓片樣品，且可根據(jù)應(yīng)用選擇真空系統(tǒng)或自充氣系統(tǒng)。由此使本光譜儀達到水平。在與大型波長色散光譜儀的比較試驗中，其大部分性能指標(biāo)接近或達到大型波長色散光譜儀的性能指標(biāo)，某些甚至超過。其性能指標(biāo)相比進口同類產(chǎn)品更好，而價格僅為進口同類產(chǎn)品的一半，具有的價格性能比。另外國內(nèi)企業(yè)售后服務(wù)的方便程度是國外企業(yè)所無法相比的。且本光譜儀良好的屏蔽防護設(shè)計保證無任何射線泄漏，滿足輻射豁免要求。
適用范圍
DM2500MEDXRF輕中元素光譜儀可用于各行各業(yè)所有物料的含量測量。無論環(huán)保、冶金、化工、地質(zhì)、礦山、電子電氣、食品等各行業(yè)，還是壓片、熔片、液體等各類型樣品，只要用戶所要求的測量元素在B(5)～Zn(30)的范圍內(nèi)，DM2500都能進行準確測量。其符合幾乎所有元素測定XRF光譜法標(biāo)準的相關(guān)要求，如：國家或行業(yè)標(biāo)準GB/T 176—2017《水泥化學(xué)分析方法》、GB/T3286.11-2022《石灰石及白云石化學(xué)分析方法 第11部分：氧化鈣、氧化鎂、二氧化硅、氧化鋁及氧化鐵含量的測定 波長色散X射線熒光光譜法（熔鑄玻璃片法）》、GB/T4333.5-2016《 硅鐵 硅、錳、鋁、鈣、鉻和鐵含量的測定 波長色散X-射線熒光光譜法（熔鑄玻璃片法）》、YS/T63.16—2019《鋁用碳素材料檢測方法 第16部分：元素含量的測定 波長色散X射線熒光光譜分析方法》、GB/T24198-2009《鎳鐵.鎳、硅、磷、錳、鈷、鉻和銅含量的測定.波長色散X射線熒光光譜法(常規(guī)法)》等。其還符合行業(yè)標(biāo)準JC/T1085—2008《水泥用X射線熒光分析儀》、JB/T11145—2011《X射線熒光光譜儀》。
如貴用戶對某些元素的測量有特殊的要求，則本公司可根據(jù)用戶的要求更改單色激發(fā)系統(tǒng)和或軟件系統(tǒng)以滿足用戶對測量元素的要求。
特點
快速同時–所需測量元素同時快速分析，一般幾十秒給出含量結(jié)果。
高準確度–采用MMEDXRF技術(shù)，LSDCC核心技術(shù)，根據(jù)所要測量的元素來選擇單色光的能量及產(chǎn)生單色光的方法，極大地提高了儀器的靈敏度和峰背比，具出色的重復(fù)性和再現(xiàn)性，的準確度。
向下照射–采用X射線向下照射系統(tǒng)，杜絕了樣品粉末污染損壞探測系統(tǒng)的可能，特別適合粉末壓片樣品。
樣品自旋–具有樣品自旋裝置，消除了壓片樣品中由于特硬物質(zhì)的存在而不易粉碎造成的樣品不均勻性。
長期穩(wěn)定–采用可變增益數(shù)字多道，有PHA自動調(diào)整、漂移校正、偏差修正等功能，具的長期穩(wěn)定性。
環(huán)保節(jié)能–射線防護達豁免要求。分析時不接觸不破壞樣品，無污染，無需化學(xué)試劑，也不需要燃燒。
使用方便–觸摸屏操作。樣品粉碎壓片放入儀器后只需按[啟動]鍵即可，真正實現(xiàn)一鍵操作。
高可靠性–一體化設(shè)計，集成化程度高，環(huán)境適應(yīng)能力強，抗干擾能力強，可靠性高。
高性價比–無需鋼瓶氣體，運行維護成本極低。價格為國外同類產(chǎn)品的一半。是真正的高性價比產(chǎn)品。
技術(shù)
同標(biāo)準型
校準
X熒光分析方法是一種參考方法，校準是為得到定量的結(jié)果所必須的。XRF光譜儀通過比較已知標(biāo)樣與未知樣的光譜強度來得到定量分析的結(jié)果。其某元素的含量計算式（即校準曲線）為：
C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）
式中，IC =f(I0)，I0為原始強度（即原始道計數(shù)率），IC為處理后強度（或修正后強度），D、E、F是由校準確定的系數(shù)。校準的方法是：用光譜儀測量一系列校準標(biāo)準樣品或有證標(biāo)準樣品的每種元素強度，利用回歸分析，例如最小二乘法，確定（1）的系數(shù)。
用已知含量的某單位鋁用碳素校準樣品對光譜儀進行校準，得到的數(shù)據(jù)如表1。
表1.某單位鋁用碳素校準樣品校準結(jié)果數(shù)據(jù)（ppm）
| 元素 | Na | Si | S(%） | Ca | V | Fe | Ni |
| 系數(shù)D | -489.8 | -66.93 | -0.34 | -276.9 | -372.7 | -158.1 | -140.2 |
| 系數(shù)E | 0.9447 | 6.458 | 1.58 | 1.074 | 1.251 | 0.2932 | 0.854 |
| 系數(shù)F | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
| 相關(guān)系數(shù)γ | 0.9612 | 0.9971 | 0.9956 | 0.9833 | 0.9977 | 0.9561 | 0.9742 |
這些校準曲線的相關(guān)系數(shù)γ 均大于0.95，表示DM2500光譜儀的線性誤差極小。
重復(fù)性
對某單位鋁用碳素樣品中的某一樣品，進行11次測量，得到各元素的重復(fù)性數(shù)據(jù)如表2。
表2.某單位鋁用碳素樣品重復(fù)性測量數(shù)據(jù)分析（ppm）
| 元素 | Na | Si | S(%） | Ca | V | Fe | Ni |
| 理論值 | 111.5 | 223 | 1.56 | 311.8 | 410 | 242 | 242 |
| 平均示值 | 105.80 | 225.36 | 1.55 | 312.52 | 412.91 | 232.61 | 235.02 |
| 示值 | 108.09 | 228.23 | 1.56 | 315.88 | 418.04 | 234.13 | 237.35 |
| 最小示值 | 102.4 | 223.19 | 1.54 | 310.3 | 410.69 | 231.48 | 233.87 |
| 極差 | 5.69 | 5.04 | 0.02 | 5.58 | 7.35 | 2.65 | 3.48 |
| 示值標(biāo)準偏差 | 2.11 | 2.13 | 0.0071 | 2.21 | 3.01 | 0.96 | 1.41 |
| 3倍示值標(biāo)準偏差（儀器重復(fù)性限） | 6.33 | 6.39 | 0.021 | 6.63 | 9.03 | 2.88 | 4.23 |
| GB/T176的重復(fù)性限 | 15 | 23 | 0.033 | 15 | 15 | 9 | 8 |
| YS/T63.16允許差 | 35 | 45 | 0.10 | 30 | 25 | 25 | 20 |
| DM2500與YS/T63.16的符合性 | 遠優(yōu) | 遠優(yōu) | 優(yōu) | 遠優(yōu) | 優(yōu) | 遠優(yōu) | 優(yōu) |
注：粉末壓片樣品。在X射線源為半功率（25W），測量時間為300s的條件下，連續(xù)進行11次測量所得的結(jié)果。
從上表可知：光譜儀的重復(fù)性限均小于行業(yè)標(biāo)準YS/T63.16—2019《鋁用碳素材料檢測方法 第16部分：元素含量的測定 波長色散X射線熒光光譜分析方法》所要求的重復(fù)性限。所以，DM2500光譜儀可實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性，滿足YS/T63.16—2019有關(guān)重復(fù)性的要求。
主要技術(shù)指標(biāo)
| 測量元素 | 可選擇B(5)～Zn(30)中的任意元素 |
| X射線管 | 電壓：≤50keV，電流：≤2mA，功率≤50W，靶材：Ag（Mo、Rh、Pd、Cr等可選） |
| 探測器 | SDD，有效面積：20mm2，分辨率：≥123eV，計數(shù)率：≤2Mcps，入射窗：AP3.3 |
| 檢測限（300s） | C：2.0%，N：1.0%，O：0.5%，F：0.15%， Na：30ppm，Mg：20ppm，Al：10ppm，Si/P/S/Cl：2.0ppm，K-Zn：3.0ppm |
| 測量范圍 | 檢測限的3倍～99.99%。 |
| 重復(fù)性限 | 滿足幾乎所有元素測定XRF光譜法標(biāo)準的相關(guān)要求，如：GB/T 176—2017，GB/T3286.11-2022，GB/T4333.5-2016，YS/T63.16—2019，GB/T24198-2009等 |
| 系統(tǒng)測量時間 | 1～999s，推薦值為300s |
| 測量氛圍 | 自充氣系統(tǒng)或氦氣 |
| 使用條件 | 環(huán)境溫度：5～40℃，相對濕度：≤85%(30℃)，供電電源：220V±20V，50Hz，≤200W |
| 尺寸及重量 | 540mm×500mm×450mm，35kg |
注：檢出限與樣品基體有關(guān)。
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